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全反射X射线荧光光谱仪

展馆编号: E4
展位编号: G28
所属领域:
信息来源:
技术持有方: 铂悦仪器(上海)有限公司
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技术详情

全反射X射线荧光光谱仪 作为一种常见的元素含量分析手段,X 射线荧光(XRF)光谱法在科研、工业、生命科学等领域中都有着广泛的应用。而全反射X射线荧光光谱仪的出现,更是极大地拓展了XRF 的应用范围,突破传统XRF的检出限,实现了液体、固体、薄膜中超微量元素的检测,检出限低至ppb级别。TXRF操作简单,制样便捷,无需耗材、气体,仅需极少量样品即可实现样品中元素的快速定量分析,尤其是在样品稀缺、测试量大以及样品种类多变的情况下,这一优势十分显著。因此,TXRF是原子吸收光谱法(AAS),电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)或质谱法(ICP-MS)等测试手段的良好补充,是生产、研究、检测中元素含量分析的理想选择。 应用领域广泛 环境土壤,水质,大气颗粒物,植物叶片等;生命科学中血液,尿液,医药,法检等。

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